摘要

[背景]镉是一种常见的重金属污染物,以往的研究主要聚焦其影响细胞自噬和凋亡,但其是否导致细胞程序性坏死尚不明确。[目的]研究镉诱导小鼠原代神经细胞程序性坏死的机制。[方法]以小鼠原代神经细胞为实验对象,10μmol·L-1氯化镉分别处理细胞2、4、6、12、24、48 h,用台盼蓝染色法计算细胞存活率;采用流式细胞仪检测经10μmol·L-1氯化镉处理后细胞周期的变化(24、48 h)及细胞程序性坏死水平(48 h);实时荧光定量PCR法检测经10μmol·L-1氯化镉处理48 h后细胞程序性坏死相关基因如受体相互作用丝氨酸苏氨酸激酶3(RIPK3)、混合系列蛋白激酶样结构域蛋白(MLKL)的表达;蛋白印迹法检测5、10、20μmol·L-1镉离子处理后自噬相关蛋白p62的蛋白表达水平;检测p62和自噬微管相关蛋白1轻链3-B(LC3-B)的荧光强度。[结果]小鼠原代神经细胞经10μmol·L-1氯化镉处理4、6、12、24、48 h后细胞活力下降(P <0.05);相比较对照组(49.62%),细胞经10μmol·L-1氯化镉处理24 h和48 h后分别有60.88%和82.94%的细胞停留在G0—G1期;10μmol·L-1氯化镉处理48 h后,细胞程序性坏死水平(47.50%)高于对照组(0.01%),且细胞程序性坏死相关基因RIPK3和MLKL转录水平是对照组的6.9倍、3.7倍。经5、10、20μmol·L-1氯化镉处理后小鼠原代神经元细胞自噬相关蛋白p62表达分别上调(587±17)%、(609±14)%、(893±16)%。经10μmol·L-1氯化镉处理后细胞内自噬相关蛋白p62和LC3-B在细胞内共定位,且荧光强度高于对照组。[结论]镉离子能降低小鼠原代神经元细胞存活率,使细胞周期停滞在G0—G1期且提高细胞程序性坏死水平,可能与p62和LC3-B表达水平升高阻断细胞自噬流有关。

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