研究使用统计方法分析化学检测中线性回归标准曲线的稳定性,采用F检验和t检验对不同时期建立的标准曲线方程中剩余标准差、斜率和截距三个参数之间差异进行了深入研究,同时使用该方法对原子荧光光谱法测定电器电子产品中六价铬中的标准曲线稳定性进行分析。结果表明原子荧光光谱法测定电器电子产品中六价铬的方法稳定、可靠,同时也证明该统计分析方法可用于化学检测中方法稳定性的分析。
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