基于电离室阵列测量X射线半值层实验的研究

作者：龚岚; 张友德; 陈宇; 尹虹又; 余真; 雷虹

来源：中国测试, 2012, (03): 43-45+64.

• 电离室阵列
• 辐射质
• 吸收片
• 半值层
• 衰减曲线 ionization chamber array
• radiation quality
• absorber
• half value layer
• decay curve

目前测量X诊断医用辐射源的半值层的方法基本采用人工叠加吸收片,测量出射线穿透不同厚度吸收片后的照射量,从而采用绘图方法或插入法计算X诊断医用辐射源的半值层[1],该方法曝光次数多,光机损伤大,操作不方便。为了准确测量诊断X射线的辐射质,减少工作量,设计一种电离室阵列测量方案,通过单次测量不同厚度吸收片下的剂量值,根据衰减曲线插值计算得到给定千伏下的半值层。通过测试比较,电离室阵列测量方案操作简单,数据准确,曝光次数少,能减少光机的损耗,具有较高的应用前景。

• 单位
  中国测试技术研究院