粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中的杂质组分

作者：杨峰^*; 郭家泽; 刘伟洪

来源：化学世界, 2020, 61(02): 110-115.

DOI：10.19500/j.cnki.0367-6358.20180808

• 粉末压片
• X射线荧光光谱
• 石墨

采用了非破坏性、无需化学消解试样的固体粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中8种杂质组分SiO2、Al2O3、Fe2O3、CaO、MgO、MnO、P2O5、TiO2的质量分数。使用国家标准物质(GBW03118-03120,ZBM150-154)建立了校准曲线,优化了粉末压片制样条件。测定石墨标准物质各组分的相对标准偏差(RSD)在0.8%～4.86%之间,测定值与标准值相符,且与电感耦合等离子发射光谱的对比测定结果一致。