平面相控阵宽角扫描技术

作者:王秉中; 丁霄; 肖绍球; 程友峰; 邵维
来源:微波学报, 2020, 36(01): 38-44.
DOI:10.14183/j.cnki.1005-6122.202001007

摘要

宽角扫描技术是近年来平面相控阵研究领域的热点和难点。从2008年起,电子科技大学计算电磁学团队便开展了相关研究工作,提出了利用方向图可重构技术突破平面相控阵宽角扫描瓶颈的理论和实验方案,并逐步发展了基于电磁镜像原理、表面波辅助设计、磁流源技术、非周期阵列和时间反演自适应优化等理论和方法,用于实现平面相控阵宽角扫描。文章回顾了该团队在平面相控阵宽角扫描领域的研究历程,并对其研究发展做出展望。