为快速评价厚膜片式电阻器的抗硫化性能，提出了一种新方法。该方法以硫脲为硫源，将样品浸入一定温度的硫脲水溶液中，测试浸入前后的电阻变化率并进行评价。与目前以硫化氢、硫磺等为硫源的方法相比较，该方法在评价速度、环保性、安全性、操作便利性等方面具有明显优势。以银电极样品和抗硫化厚膜片式电阻器为对象，硫脲和硫化氢为硫源，做了两组对照实验，结果表明，硫脲溶液法的评价速度至少是传统硫化氢法的8倍。
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