针对电子高可靠性、长寿命的特点,提出了使用步进应力加速寿命试验方法来评估电子部件件的贮存寿命和可靠性指标。基于威布尔寿命分布和Arrhenius加速寿命模型,采用极大似然法进行参数估计,对电子部件在常温下(25℃)的贮存寿命进行评估。结果表明,在25℃下且可靠度为0.995时,使用步进应力加速寿命试验方法评估电子部件的寿命约为16.22年,与恒定应力下的加速寿命试验得出的结果相近,充分说明了采用步进应力加速寿命方法评估电子部件的有效性。
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