双S型光纤结构的传感特性

作者：王志平; 龚华平; 熊梦玲; 赵春柳; 董新永

来源：光子学报, 2016, 45(10): 68-72.

DOI：10.3788/gzxb20164510.1006002

• 马赫-曾德干涉仪
• 温度
• 折射率
• 微位移 Mach-Zehnder interferometer
• Temperature
• Refractive index
• Micro displacement

在剥除涂覆层的单模光纤上熔成两个间距为25mm的S型结构,构成双S型全光纤马赫-曾德干涉仪.入射光经过第一个S型结构时部分光被激发到包层,经过第二个S型结构时重新进入纤芯传播,S型结构中光纤的纤芯模和包层模耦合产生干涉.利用干涉光谱测量外界因素的响应并用于温度、折射率和微位移的测量.实验结果表明,温度、折射率和微位移的灵敏度分别为69pm/℃,132.64nm/RIU,-178pm/μm,且具有很好的线性度.该传感结构为全光纤结构,制作简单,易于实现且成本低.

• 单位
  中国计量大学; 光学与电子科技学院