ASTM发布新的纳米粒子跟踪和测量标准

作者：袁凤

来源：中国个体防护装备, 2013, (04): 53.

DOI：10.16102/j.cnki.cppe.2013.04.014

• 纳米粒子
• NTA
• 原子力显微镜
• 纳米级
• 测量标准

<正>最近,AST纳米技术委员会E56制定了2项新的标准,将为纳米材料测量领域的各类用户提供帮助。第一项标准是:ASTME2834《利用纳米粒子跟踪分析法(NTA),测量悬浮纳米材料粒子尺寸分布指南》;第二项标准是:ASTME2859《利用原子力显微镜法(AFM)测量纳米粒子