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摘要
在透射电子显微镜(TEM)中，电子束会引起碳污染，为了研究纳米晶体在TEM表征过程中碳污染问题的解决方案，选取油胺中合成的Au2Bi纳米晶体，分别用超薄碳膜和超薄双联碳膜制备样品，并用TEM进行表征。研究结果表明，利用超薄双联碳膜制备样品，明显降低了纳米晶体的碳污染现象，大大提高了电子显微镜图像的质量。同时，从碳污染形成的原理方面，分析了超薄双联碳膜能够缓解碳污染产生的原因，是因为两层碳膜将样品固定在一起，可以有效阻止有机配体的扩散。这种有效且简便的方法有助于TEM研究受配体诱导污染的纳米晶体材料。
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