一种柔性IC基板点线面缺陷的快速分类方法

作者：胡跃明; 李璐

来源：2018-11-09, 中国, ZL201811328664.5.

本发明公开了一种柔性IC基板点线面缺陷的快速分类方法,包括,根据点线面缺陷图像检测步骤,得到缺陷检测结果；采用点线面智能分类步骤,对缺陷检测结果进行分类,得到分类结果。本发明解决了柔性IC基板点线面缺陷快速分类难题,为生产过程品质监控提供科学依据。

• 单位
  华南理工大学