高压电缆瓷套式终端发热原因

作者：罗真海; 陆国俊; 王晓兵; 罗红; 肖上林; 郭长春

来源：高电压技术, 2007, (11): 240-241+244.

DOI：10.13336/j.1003-6520.hve.2007.11.038

• 终端
• 红外成像
• 发热
• 介质损耗
• 电场计算
• 水分含量

为了及早发现电缆线路的安全隐患,防止事故发生,采用红外热成像仪在线检测了某110kV高压电缆终端,发现了高压电缆瓷套式终端异常发热的现象,通过一系列的检测和研究试验,查明了终端发热的原因为终端填充的硅油介损过高所致,获得了试验数据,为今后电缆线路在线监测积累了经验。

• 单位
  广州供电局