针对工业过程的PI控制器,提出了一种控制器性能评价的新算法。该算法以广义最小方差为目标,推导出最优PI控制器参数。以该最优控制器为基础,得到PI控制下系统的最优控制性能。然后,以最优控制的输出为基准,进行性能评价,并给出了性能评价的可操作步骤。最后通过仿真实验验证了该方法的有效性。
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