摘要
目的探讨全皮下植入型心律转复除颤器(S-ICD)植入术中除颤阈值(DFT)测试对后期放电事件的预测价值。方法选择2017年1月至2021年6月在新疆医科大学第一附属医院植入S-ICD并至少随访3个月的患者, 按照术中有无DFT测试及PRAETORIAN评分分为DFT测试组、DFT未测试组, PRAETORIAN评分≤45分组、>45分组。回顾性收集患者一般资料并分析其临床特点、放电事件和并发症等。初步探讨DFT测试对后期放电事件的预测价值, 以及复律失败风险极低患者的不恰当放电概率是否随PRAETORIAN评分的增高而增大。结果研究纳入41例患者, 其中男31例, 年龄(54.9±15.0)岁, 年龄范围18~85岁。所有患者均未出现术后并发症。中位随访4个月内, 10例患者发生37次放电事件。DFT测试组与DFT未测试组不恰当放电患者数(1对1, P=1.000)及不恰当放电总次数(10对1, P=0.064)差异无统计学意义。PRAETORIAN评分≤45分组与>45分组不恰当放电患者数差异无统计学意义(0对2, P=0.133), 不恰当放电总次数差异具有统计学意义(0对11, P<0.001)。结论 S-ICD植入术中DFT测试对患者后期放电事件影响较小。复律失败风险极低患者的PRAETORIAN评分越高, 不恰当放电可能性越大, 该结论有待扩大样本量加以确认。
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单位新疆医科大学第一附属医院