摘要

测量了KTa1-xNbxO3(KTN)晶体在常温和高温下的Raman光谱;实时测量了晶体生长过程中,固/液边界层内以及边界层两侧的晶体和熔体的高温显微Raman光谱.通过光谱分析获得了KTN晶体生长固/液边界层内的结构特征,以及晶体生长基元从熔体结构经边界层过渡到晶体结构的变化规律.研究表明,KTN熔体中的[Ta/NbO3]结构基团进入到生长边界层后逐步转化为[Ta/NbO6]八面体结构基团,已具有KTN单胞的一些特征.进而讨论了以[Ta/NbO6]八面体为生长基元的KTN晶体有(100),(100),(010)和(010)晶面容易显露的生长习性,发现KTN晶体生长固/液边界层厚度约为80—9...

  • 单位
    中国科学院安徽光学精密机械研究所; 上海大学; 中国科学院,安徽光学精密机械研究所