MOSFET漏源电压谷底时刻微分检测法

作者：王亮; 张波; 丘东元

来源：中国,黑龙江省,绥化市,北林区.

• 去磁检测
• 微分检测法
• 准谐振技术
• MOSFET漏源
• 电压检测
• 反激式变换器

本文介绍了在反激式变换器中引入准谐振技术的优点，分析了现有反激式电源管理芯片实现准谐振的去磁检测方法及其缺陷，提出了一种基于MOSFET漏源电压微分的电压谷底检测方法，实现了MOSFET的谷底开通。最后进行了仿真和实验，证明了该方法的可行性。

• 单位
  华南理工大学