基于时域光谱技术的材料特性研究

作者：庄建兴; 成立; 洪伟; 郝张成

来源：微波学报, 2016, 32(02): 6-20.

DOI：10.14183/j.cnki.1005-6122.201602002

• 时域光谱
• 太赫兹
• 相对介电常数
• 损耗角正切
• 微波板材
• 硅基

材料的介电特性是器件和电路设计的基础。随着设计频率进入太赫兹频段,材料特性变得未知,缺乏相应的测试数据。利用太赫兹时域光谱(THz-TDS)技术对常用的材料进行测试并给出相应的测试结果。首先给出了材料特性测量的原理与计算公式,并利用该方法对微波板材Rogers RT/Duroid 5880,FR4epoxy及不同电阻率的硅基材料在太赫兹频段的介质特性进行了测量和实验分析,得出了这4种材料在太赫兹频段的相对介电常数及损耗角正切。其中,高阻硅的损耗最低,其次为Rogers RT/Duroid 5880板材,而FR4epoxy板材则在0.30.4 THz存在明显的吸收峰。最后,讨论了这些材料在太赫兹频段的应用前景。

• 单位
  毫米波国家重点实验室; 东南大学