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摘要
基于与各自的级联环境相互耦合的三个独立的量子比特系统,详细考察了强、弱耦合体系下腔-腔耦合强度W和腔衰减率G1对负性纠缠度、Bell非定域性和纠缠目击的影响.结果表明:Bell非定域性和纠缠目击都可以出现猝死和猝生现象; G1=0时,随着W的增加,三者在历经短时阻尼振荡后,均会随时间达到各自的稳定值,且该稳定值随着W的增大而增大.同时,三者在弱耦合体系的量值或存活时间都优于强耦合体系.此外,非零G1对量子关联有着很大的负面效应.于是,为了更好地抑制量子关联损失,进一步分析了弱测量和测量反转操作的有效调控作用,得到一些有趣的结果.
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