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摘要
研究了太赫兹散射式扫描近场光学显微镜（Terahertz scattering-type scanning near-field optical microscopy,THz s-SNOM）对亚表面金属微纳结构的显微成像检测。首次采用自主搭建的THz s-SNOM系统对表面覆盖了六方氮化硼薄膜的金微米线进行太赫兹近场显微测量，获得了具有纳米量级空间分辨率和较高对比度的近场显微图。结合全波数值模拟，分析了THz s-SNOM探测亚表面金属微纳结构的空间分辨率、近场散射信号强度和成像对比度。研究表明，THz s-SNOM具有优良的亚表面显微成像检测能力，可应用于微纳电子器件的亚表面结构表征和缺陷检测。
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