宽阻带二阶带通频率选择表面研究

作者:郑光明; 张兵兵; 汪岩; 龙怡菲
来源:华中科技大学学报(自然科学版)科技大学, 2021, 49(08): 70-74.
DOI:10.13245/j.hust.210813

摘要

为了得到宽阻带二阶带通频率选择表面,采用三层金属层结构和两层相等的介质构成频率选择表面的微结构,阐述了宽阻带二阶带通频率选择表面的结构.采用理论计算和HFSS仿真软件进行了仿真设计,窄带理论计算结果和仿真结果一致性较好,均具有二阶带通的频率特性,仿真设计结果具有宽阻带特性,该二阶带通频率微结构单元的容差性和频率稳定性较好.设计了单元尺寸为0.017λ×0.017λ,厚度为λ/59的频率选择表面,其中λ为自由空间的波长.制作实物并测试了频率特性,实测和仿真结果一致性较好,中心频率为0.74 GHz,阻带为0.9~14.9GHz,整个阻带内的抑制度大于15 dB,相对带宽为5%,带内插损小于0.4 dB.

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