测试一次良率提升探析

作者：张浩; 张进兵; 周旭峰; 崔有军; 闫进学

来源：中国集成电路, 2023, Z1: 87-90.

• 误测
• 一次良率
• 良率提升

集成电路测试过程中提高一次测试良品率是节约成本和提高效率最直接的方法。由于测量系统精度的限制以及测试条件的差异，误测时常发生。本文探讨了部分影响一次测试良品率的因素及其解决方法。

• 单位
  天水华天科技股份有限公司