基于聚类的芯片次品判别分析

作者：李瑞恒

来源：通讯世界, 2019, 26(01): 278-279.

• K-means聚类
• 正态分布
• 次品判别

本文从正态分布检验和机器学习中的聚类判别两方面分别进行芯片次品判别分析,用于辅助支持发现各工序中的质量隐患。我们的研究成果用于维护产品的品质,提高用户体验和厂商利润。