C3S浆体的ζ电位研究

作者：钱海龙; 邓敏; 陆国森; 王志磊

来源：科学技术与工程, 2016, 16(36): 223-227.

• C3S浆体
• ζ电位
• 离子

采用分析纯试剂合成的C3S和纳米SiO2水化制备浆体,应用X-射线衍射仪(XRD)、场发射电镜(FESEM)和红外光谱分析(FTIR)分别表征了C3S浆体的物相组成、微观形貌和分子结构。研究了浆体分散在不同浓度电解质溶液中的ζ电位。结果表明:C3S浆体在去离子水中ζ电位均为负值,未掺纳米SiO2浆体ζ电位约为-17 mV,掺15%纳米SiO2浆体ζ电位约为-19 mV。在Ca2+、Li+和Cl-溶液中,浆体表面吸附离子,改变了自身所带电荷,进而引起浆体ζ电位变化,K+由扩散层进入吸附层改变ζ电位。

• 单位
  材料化学工程国家重点实验室; 南京工业大学