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摘要
基于重离子和质子单粒子效应(SEE)物理机理上的内在关联，得到了重离子SEE截面和质子SEE截面之间的理论联系，建立了由质子SEE截面的实验数据预测重离子的SEE截面的计算方法。该计算方法的关键为质子入射器件沉积能量的等效线性能量转移(LET)谱，将由质子SEE截面计算重离子SEE截面的问题转化为解方程的问题，方程的未知数为表征重离子SEE截面随LET变化的Weibull函数的4个参数，并利用粒子群算法对其求解。选取了3种不同特征尺寸的静态随机存储器(SRAM)对该计算方法进行了验证。结果表明，预测值与实验数据较为符合。该计算方法为获取微电子器件的重离子SEE截面提供了新途径，尤其是为获取倒装器件重离子SEE截面提供了便利。
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