电子设计自动化中的数字电路测试技术

作者：李华伟; 李晓维

来源：微纳电子与智能制造, 2021, 3(02): 28-35.

DOI：10.19816/j.cnki.10-1594/tn.2021.02.028

• 集成电路
• 数字电路测试
• 电子设计自动化
• 芯片设计

缺陷在超大规模集成电路制造过程中不可避免,需要采用集成电路测试技术确保芯片产品质量。对于数字集成电路芯片,必须在设计中添加辅助测试电路以获得满足质量要求的测试覆盖率。介绍了电子设计自动化中的数字电路测试技术及工具,阐述了测试生成和可测试性设计的原理,最后展望了技术的发展趋势。

• 单位
  中国科学院大学; 中国科学院计算技术研究所; 计算机体系结构国家重点实验室