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摘要
以2.25Cr-1.6W常见的焊接接头冷裂纹及再热裂纹作为研究对象,采用扫描电镜(SEM)及背散射衍射(EBSD)分别研究织构对冷裂纹的影响,以及晶界取向差对再热裂纹的影响。结果表明,不同晶体取向的柱状晶产生了较大的应变集中,导致主裂纹扩展发生了大的角度转变。相变织构也即微结构,对冷裂纹具体的扩展路径影响很大。对于再热裂纹而言,空洞和微裂纹优先形成在大角度晶界上。随着粗晶热影响区温度梯度和应力带来的塑性变形的增加,大角度晶界所占比例增加,这有利于再热裂纹的形核和扩展。
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单位苏州工业职业技术学院
