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摘要
为了分析天线平面近场测量中截断角对测量结果的影响，以半波阵子组成的阵列天线为分析模型，分别针对法向波束和扫描波束进行数值计算，研究了截断误差对天线平面近场测量结果的影响．通过对比数值计算结果与理论值，分析了不同条件下远场方向图的平均副瓣、第一副瓣受截断角的影响；并给出了不确定度，即确定天线远场方向图的误差数量级．该研究为实际天线平面近场测量提供了参考．
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为了分析天线平面近场测量中截断角对测量结果的影响，以半波阵子组成的阵列天线为分析模型，分别针对法向波束和扫描波束进行数值计算，研究了截断误差对天线平面近场测量结果的影响．通过对比数值计算结果与理论值，分析了不同条件下远场方向图的平均副瓣、第一副瓣受截断角的影响；并给出了不确定度，即确定天线远场方向图的误差数量级．该研究为实际天线平面近场测量提供了参考．
