PbTiO3/SrTiO3(001)复杂畴组态和缺陷的研究

作者：冯燕朋; 朱银莲^*; 唐云龙; 马秀良

来源：电子显微学报, 2018, 37(06): 556-562.

• 铁电薄膜
• 畴组态
• 铁电畴壁
• 晶格缺陷

用透射电子显微镜对PbTiO3/SrTiO3(001)薄膜内部所形成的复杂畴组态以及畴壁处的位错进行了系统的研究。透射电镜结果和几何相位分析(GPA)表明,薄膜内部两个交叉的a畴内部出现了180°畴壁,导致在局部区域形成了全闭合畴结构,在铁电畴壁处观察到高密度位错。高分辨HAADF-STEM像分析显示,在90°畴壁处容易形成a<011>型位错,在180°畴壁处容易形成a<100>型位错,表明位错的形成与铁电畴壁类型存在强耦合关系。

• 单位
  中国科学院金属研究所; 兰州理工大学; 中国科学院大学