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摘要
基于电子显微学的原子级三维重构技术对揭示材料的微观结构，加深材料结构和性能关系的理解具有极为重要的意义。原子级电子断层成像技术(atomic electron tomography, AET)作为当前最先进的三维重构技术之一，已先后成功表征了纳米颗粒中原子位置、晶体缺陷、早期形核过程中原子的动态变化及非晶态固体的三维原子结构。本文综述了AET的流程及应用的突破，以期望读者了解AET的基本原理流程和应用，并探讨未来AET在解决物理、化学、材料科学等领域基础问题的前景与挑战。
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单位浙江西湖高等研究院; 西湖大学
