微小缺陷回波信号的成像方法研究

作者：沙正骁; 刘元钰; 梁菁; 曾甘露; 何方成; 陆铭慧

来源：压电与声光, 2021, 43(05): 640-645.

DOI：10.11977/j.issn.1004-2474.2021.05.014

• 微小缺陷
• C扫描成像
• 功率谱
• 背散射积分
• 信噪比

针对金属中微小缺陷在超声检测时回波信号较弱,利用时域回波信号对微小缺陷试块进行C扫描成像时图像噪声较大且信噪比较低的问题,借鉴医学超声影像领域中的背散射积分诊断技术,提出了一种通过计算缺陷回波信号的功率谱(PSD)和频域背散射积分(IBS)来表征微小缺陷的方法。在使用IBS对试块进行成像后发现成像的信噪比较时域成像有显著的提高,但图像出现了明显的网格化。对此提出了使用频域背散射补偿积分(IBSC)和频域背散射全宽带积分(IBSF)成像的两种改进降噪方法。实验结果表明,这两种改进的成像方法均能在保持成像具有较高信噪比的条件下抑制图像的网格化,但IBSC的计算量远小于IBSF,更适用于金属中微小缺陷的成像检测。

• 单位
  中国航发北京航空材料研究院; 航空材料检测与评价北京市重点实验室; 南昌航空大学