直流LED灯寿命测试系统的巡检单元设计

作者：王锐仁; 袁菊明; 李国平; 施梦婷; 李文杰

来源：电脑编程技巧与维护, 2020, (03): 53-79.

DOI：10.16184/j.cnki.comprg.2020.03.020

• 耐久寿命测试
• 实测法
• 中位值平均滤波
• STM32芯片

介绍一种实测直流LED灯耐久寿命测试系统的构成及系统的核心部件—基于STM32的自动巡检单元的设计思路及方法,巡检单元从电流霍尔传感器获得电流数据,采用中位值平均滤波法进行预处理,在此基础上完成灯槽中LED灯的失效判断,如发现失效则计算使用寿命并记录当前状态信息,将有关信息上传上位机。搭建了包含2个灯槽的测试平台,并验证了自动巡检单元的寿命测试功能。

• 单位
  嘉兴学院; 机电工程学院