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摘要
无源RFID在智能柜、智能货架等相对封闭的应用场景中，由于复杂环境导致的信号反射、叠加，存在信号盲区或者弱区，有的标签还会发生频偏，从而带来标签的漏读和串读问题。对此，项目人员通常通过大量的测试来评估信号盲区和弱区范围，而不能直观看到信号的强弱分布情况，无法针对性地改善盲区和弱区。本文旨在引入信号可视化方法，对目标环境内的场强进行直观展示，并通过增加扫频方式确定标签对不同频点的响应情况，确定标签在哪些区域内哪些频点无响应，从而让项目开发者能快速找到标签漏读或串读的原因，从而针对性地优化RFID天线阵列设计，补偿对应的盲区和弱区，快速实现产品的性能升级。该方案已在智能货架、RFID通道门等多个产品开发阶段和现场应用环境中得到使用，大大提升了漏读和串读问题的解决效率。
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单位浙江海康科技有限公司
