摘要

针对低压差线性稳压器,采用接触式脉冲电流注入试验方法,研究电磁脉冲对集成半导体器件的损伤机理,并对试验数据进行统计分析。结果显示,该器件的电磁脉冲损伤阈值规律可以用Weibull分布函数较好地进行表征。

  • 单位
    西北核技术研究所