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摘要
本发明公开一种检测MCU芯片抗EFT干扰能力的电路及方法,本发明搭建了一个专门用于检测MCU抗EFT干扰能力的电路,利用该电路中第一直流电压源V1产生的线性直流电压信号驱动待检测MCU产生无EFT干扰时的输出波形,设计EFT干扰信号源参数,由线性直流电压信号驱动EFT干扰信号源产生EFT干扰信号,将线性直流电压信号与EFT干扰信号相加后驱动待检测MCU产生有EFT干扰时的输出波形,通过对比无EFT干扰信号与有EFT干扰信号时的输出波形,评估待检测MCU的抗EFT干扰能力。本发明EFT干扰信号源参数的设计更加符合工程实际情况,对MCU抗EFT干扰能力的评估更准确。
- 单位
