Z-扫描技术测量(Na_(0.5)Bi_(0.5))TiO_3薄膜非线性折射率

作者：张婷; 何家梅; 丁玲红; 张伟风

来源：河南大学学报(自然科学版), 2007, (01): 14-17.

DOI：10.15991/j.cnki.411100.2007.01.004

• Z-扫描技术
• 非线性折射率
• (Na0.5Bi0.5)TiO3薄膜 Z-scan technique
• nonlinear refractive index
• (Na_0.5Bi_0.5)TiO_3 thin films

描述了一种重要的测量多种物质的光学非线性折射率的单光束Z-扫描测试技术,被测样品放置于汇聚高斯光束的光轴(Z轴)上,样品在焦点附近沿Z轴移动,在远场处放置带有小孔的屏,通过测量样品的透过率与样品位置的关系,即可得到材料的非线性折射率.利用此技术,测量了(Na0.5Bi0.5)TiO3薄膜样品的非线性折射率.

• 单位
  河南大学