GIS支撑绝缘子内部放电缺陷综合诊断方法现场应用

作者：代晖; 熊攀; 周电波; 杨帆; 薛志航; 何宇航; 姚晓

来源：四川电力技术, 2021, 44(05): 54-58.

DOI：10.16527/j.issn.1003-6954.20210511

• 特高频
• X射线
• GIS
• 支撑绝缘子
• 局部放电

介绍了基于特高频局部放电检测和X射线成像检测的气体绝缘金属封闭开关设备(GIS)支撑绝缘子内部放电缺陷综合诊断方法,并进行了分析和现场应用研究。以某110 k V GIS为例,利用特高频法对运行中的GIS进行局部放电检测,在检测到异常信号后,通过干扰排除和多通道信号时延定位确定缺陷位置、缺陷类型。对于支撑绝缘子内部放电缺陷,利用X射线成像检测技术对缺陷情况进行确认,从而实现缺陷综合诊断,指导设备检修。

• 单位
  国网四川省电力公司电力科学研究院