富平银沟遗址陶瓷标本检测及工艺研究

作者:方涛; 袁文瓒; 李川*
来源:中国陶瓷, 2017, S1: 122-127.
DOI:10.16521/j.cnki.issn.1001-9642.2017.s.010

摘要

利用EDXRF方法对银沟遗址陶瓷标本进行了元素组成分析,利用色差色彩计测试了部分陶瓷表面釉层的色度指标,利用高温热膨胀仪对部分陶瓷做了烧成温度测定。并将分析结果与同时期景德镇地区陶瓷数据进行了对比分析。结果表明:银沟遗址的陶瓷标本青白瓷为“高硅低铝”类型,和景德镇的青白瓷标本存在一定的差异,而青瓷则呈现“高铝低硅”的特点。

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