利用相对论效应谱仪得到单能电子,用全峰总计数法(TPGA)、全峰净计数法(TPNA)、半峰总计数法(SPGA)和半峰净计数法(SPNA)四种取谱方法分别读取了不同能量的单能电子穿过不同厚度打印纸前后的计数,比较了相同能量单能电子通过不同厚度打印纸前后四种计数方法的强度变化率曲线,得出利用半峰净计数的取谱方法强度变化率最大,即只考虑取谱方法对测厚系统厚度灵敏度的影响时,采用半峰净计数取谱方法,系统灵敏度最高.这为单能电子测厚中最佳取谱方法的选择提供了依据.
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