地铁屏蔽门故障多为电磁锁提锁失败所致,故障分为偶发型和永久型。为了测试和捕捉偶发型电磁锁故障,我们研制了地铁屏蔽门电磁锁测试与记录装置。本装置以ARM芯片为核心,具有自动控制特征,可以控制电磁锁自动进行测试与记录,可大幅提高测试效率,适合在地铁行业推广应用。