与非型快闪存储器可靠性评价方法分析

作者：罗晓羽; 刘芳; 高硕

来源：信息技术与标准化, 2018, (07): 70-74.

• 与非型快闪存储器
• 耐久
• 数据保持
• 干扰
• 评价

针对与非型快闪存储器(NAND FLASH)的耐久、数据保持、编程干扰、读干扰等可靠性指标,分析当前可靠性评价中面临的困扰及国内外现有研究基础;根据其失效机理,研究提出各项指标的评价方法,以及试验应力的选取思路。

• 单位
  北京兆易创新科技股份有限公司; 中国电子技术标准化研究院