本发明公开了一种基于阵元特征模式的阵列天线电性能分析方法,包括阵元辐射模式的确定；阵元在阵中环境下的模式激励系数的计算；阵列天线远场方向图的计算；阵列天线激励端口网络参数求解。本发明严格考虑了阵元间的互耦效应,可精确分析阵列天线电性能。所提方法可用于揭示阵元间的互耦效应本质,对于阵列天线的分析与设计具有重要工程意义。
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