一种高di/dt栅控晶闸管的三重扩散工艺优化

作者:孙瑞泽; 陈万军; 彭朝飞; 阮建新; 张波
来源:电子与封装, 2014, 14(07): 29-33.
DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2014.07.012

摘要

传统栅控晶闸管(MCT)的制造工艺中存在阱区浓度调整与器件性能最大化之间的矛盾,提出了一种具有高电流上升率的制造工艺的优化,实现了具有更高正向电流能力与低阈值电压的MCT器件。结果表明该工艺制造的MCT在脉冲放电应用中电流上升率(di/dt)较传统工艺所制造的器件提高15%,最大工作温度降低33%,热逸散速度提高36%。

  • 单位
    电子科技大学; 东莞电子科技大学电子信息工程研究院; 电子薄膜与集成器件国家重点实验室

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