基于EMD-SVM的光学元件中频误差识别

作者：吴睿

来源：激光杂志, 2016, 37(02): 22-25.

DOI：10.14016/j.cnki.jgzz.2016.02.022

• 光学元件
• 中频误差识别
• 经验模态分解
• 支持向量机

为了提高光学元件中频误差的识别精度,提出一种经验模态分解和支持向量机的光学元件中频误差识别模型(EMD-SVM)。首先采用经验模态分解法对光学元件表面的原始误差信呈进行分解,得到一组固有模态函数;然后采用固有模态函数和残差之和构建特征子集,并采用支持向量机建立光学元件中频误差识别模型;最后对模型性能进行了验证性测试。实验结果表明,EMD-SVM可以准确识别分布于光学元件表面的中频误差,提高了中频误差辨识的精度,可以满足光学元件质量检测的识别精度要求。

• 单位
  成都工业学院