PDCA方法支持下的TFT-LCD破片率降低项目应用探究

作者：王立夫; 盛大德

来源：电子世界, 2022, (01): 56-58.

DOI：10.19353/j.cnki.dzsj.2022.01.027

<正>TFT-LCD行业中,破片一直是影响产品良品率的重要因素之一。本文以8.5G CF面板为基础,将PDCA品质工具应用于TFT-LCD破片率降低应用中,对TFT-LCD破片率降低进行界定、测量、分析、改进和控制,从而优化生产线工艺工况,完善生产管理措施,达到降本增效的作用。TFT-LCD即薄膜晶体管、液晶显示器,制造过程中下设阵列、彩膜、成盒、膜组四大工艺。本文以CF工艺为依托,开

• 单位
  北京京东方显示技术有限公司