基于电磁辐射与深度学习的芯片指令分析

作者：李雄伟; 刘俊延^*; 张阳; 陈开颜; 刘林云; 张帆

来源：现代电子技术, 2022, 45(14): 29-34.

DOI：10.16652/j.issn.1004-373x.2022.14.006

• 芯片指令分析
• 电磁辐射
• 深度学习
• 旁路分析
• 逆向分析
• 指令分割
• 指令恢复

针对传统的芯片指令分析的局限性以及指令恢复准确率低下等问题，文中结合旁路分析与深度学习算法实现芯片指令的逆向分析。由于芯片在工作时能够通过不同的方式泄露旁路信号，因此，首先对芯片特性进行分析，找出不同执行指令、操作数据、指令地址之间电磁旁路信号的差异形式；然后，利用深度神经网络构建指令逆向分析模型，在分析连续执行指令信号时，对多周期指令进行分割并提出分阶段识别的方法恢复指令；最后，在STC89C52RC芯片上进行实验并分析，验证该方案的可行性与有效性。

• 单位
  中国人民解放军陆军工程大学