摘要
以NCA/C体系18650单体电池为实验样品,研究了三元材料NCA在100%荷电态不同温度下长期储存的性能衰退情况,并对电池开展了DPA分析,通过X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、交流阻抗等分析手段对电池长期储存性能衰退的机理进行了探讨。结果显示,长期储存下蓄电池容量下降、内阻增加,且性能衰退情况受温度影响最大,DPA分析结果揭示负极是电池长期储存过程中性能衰退的关键影响部件,其在长期储存过程中存在Cu集流体腐蚀,电极电阻率增加是其失效的机理。
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单位中国电子科技集团公司第十八研究所; 中国空间技术研究院