透射电镜在纳米材料表面科学中的应用浅析:以二氧化钛为例

作者：袁文涛; 李冠星; 王勇^*; 张泽^*

来源：电子显微学报, 2020, 39(05): 603-612.

• 透射电子显微学
• 透射电镜
• 原位电镜
• 表面科学
• 二氧化钛

随着透射电子显微镜(TEM)技术的发展,特别是近些年来球差校正技术及原位TEM技术的普及,TEM成为材料研究领域功能最为强大的研究手段之一。TEM能够提供多种外场环境作用下,材料结构、成分及价态的原位动态信息,并具有极高的空间(亚埃尺度)和时间分辨率(毫秒量级)。除了对材料体相进行了广泛深入的研究外,近年来原位TEM在材料表面科学研究中也开始崭露头角,显示出巨大的潜力。特别是原位TEM在确定材料表面结构、成分和价态,研究表面动态结构演变等方面取得了一系列重要进展。本文以原位TEM研究TiO2表面为例,主要介绍原位TEM在纳米材料表面科学研究中的最新应用,并讨论了机遇和挑战。

• 单位
  浙江大学; 硅材料国家重点实验室