科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
本发明公开了基于测量系统的数字集成电路辐射效应模型构建方法,主要解决现有数字集成电路辐射效应建模时间开销大,资源耗费高的问题。其实现方案为：选择数字化测量设备,在其上搭建测量系统；选择辐照后的数字器件作为原始器件,确定其缓冲器接口类型；用可控电压源分别测量输入缓冲区电源钳位二极管和地钳位二极管的电压-电流特性曲线；用可控电压源分别测量输出缓冲区上拉管和下拉管的电压-电流特性曲线；用示波器分别测量输出端的上升沿电压-时间波形和下降沿电压-时间波形；获取IBIS模型其他数据,用测量所得特性曲线、波形和数据构成数字集成电路辐射效应模型。本发明时间开销小,资源耗费低,可用于对数字集成电路辐射效应仿真。
- 单位
