元器件长期储存可靠性规律研究

作者：于望; 温景超; 刘开; 何忠名; 胡涵; 赵彦飞

来源：集成电路应用, 2021, 38(02): 18-19.

DOI：10.19339/j.issn.1674-2583.2021.02.007

• 电子元器件
• 超期复验
• 质量等级
• 超期失效

阐述进口元器件的超期使用引出的电子产品可靠性问题,分析进口元器件长期储存后出现的失效状况,电子元器件长期储存的可靠性规律,从而对元器件的长期储存以及超期质量控制提出建议。

• 单位
  中国运载火箭技术研究院