基于极小碰集求解算法的测试向量集约简

作者：欧阳丹彤; 陈晓艳; 叶靖; 邓召勇; 张立明^*

来源：计算机研究与发展, 2019, 56(11): 2448-2457.

• 电路测试
• 自动测试向量生成
• 测试向量集
• 约简
• 故障覆盖率
• 极小碰集
• 固定型故障

自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值,在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAX ATPG 2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具,可以在很短的时间内生成具有高故障覆盖率的高质量测试向量集.提出基于极小碰集求解算法的极小完全测试向量集求解算法,通过对测试向量集约简问题重新建模,利用极小碰集求解算法对TetraMAX ATPG 2018产生的测试向量集进行约简.利用这一算法可以有效地缩减测试向量集规模,且保证其故障覆盖率不变,对降低芯片的测试成本有着重要的现实意义.实验针对固定型故障,结果表明:该算法具有良好的约简效果,而且可以保证所得测试向量集中不包含冗余的测试向量.

• 单位
  中国科学院计算技术研究所; 吉林大学; 计算机体系结构国家重点实验室